2017年石家莊鐵道大學(xué)《材料現(xiàn)代分析方法》考研復(fù)試大綱

來(lái)源：石家莊鐵道大學(xué)研究生院時(shí)間：2017-01-31 15:14:05

　　Ⅰ、考試總體要求

　　掌握X射線衍射分析(XRD)、電子顯微分析(SEM、TEM)、紅外光譜分析(IR)及熱分析(DTA、DSC和TG)等分析方法的設(shè)備構(gòu)造、工作原理、表征技術(shù)和應(yīng)用。要求能夠正確選用現(xiàn)代分析技術(shù)開展材料組成、結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系的科學(xué)研究能力。

　　Ⅱ、考試的內(nèi)容及比例

　　1、X射線衍射分析(30-40%)

　　(1) 掌握X射線物理學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射理論、X射線衍射方法;

　　(2) 理解定性、定量分析原理，PDF卡片的組成;

　　(3) 掌握物相的定性、定量分析方法;

　　(4) 了解XRD的典型應(yīng)用。

　　2、掃描電鏡(20-30%)

　　(1) 了解采用的分析信號(hào)，電鏡結(jié)構(gòu)、成像原理及用途;

　　(2) 掌握試樣制備方法，圖像的解釋;

　　(3) 掌握電子探針的原理、結(jié)構(gòu)、用途及性能比較，譜圖分析方法。

　　3、透射電鏡(15-25%)

　　(1) 了解電子與物質(zhì)作用信號(hào)，透射電鏡結(jié)構(gòu)及成像原理;

　　(2) 掌握薄膜及復(fù)型試樣制備方法;

　　(3) 掌握選區(qū)電子衍射及衍射花樣的分析。

　　4、熱分析技術(shù)(10-15%)

　　掌握差熱分析、差示掃描量熱分析和熱重分析的基本原理和應(yīng)用。

　　5、光譜分析(5-10%)

　　(1) 掌握光譜分析的原理、特征和應(yīng)用;

　　(2) 了解有機(jī)化合物基團(tuán)的特征吸收頻率;

　　(3) 熟悉紅外光譜的解析方法。

　　6、其它現(xiàn)代分析方法(0-5%)

　　Ⅲ、考試方式

　　1、考試方法：筆試，閉卷，滿分100分。

　　2、考試時(shí)間：120分鐘。

　　Ⅴ、參考書：

　　1.材料科學(xué)研究與測(cè)試方法，第二版，朱和國(guó)，東南大學(xué)出版社，2013

　　2.材料現(xiàn)代分析方法，左演聲，北京工業(yè)大學(xué)出版社，2000

結(jié)束

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